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高精度硬盤RDT高溫老化柜的使用方法

時間:2023-11-10 13:52:03 作者:環儀小編 點擊:

市場上的SSD盤片在出廠前,一般都會進行可靠性驗證測試(Reliability Demonstration Testing,RDT),主要測試盤片是否能正常工作,硬件是否存在虛焊,DRAM(動態隨機存取內存)是否異常,篩選出NAND閃存(NAND FLASH)中的壞塊等操作;即RDT主要目的是篩選不合格的盤片,其中包括了焊接問題、顆粒問題、DRAM以及主控問題,通過RDT測試,能保證盤片在使用過程中穩定可靠。


SSD的RDT測試,需要用到高精度硬盤RDT高溫老化柜,那么,高精度硬盤RDT高溫老化柜怎么操作呢?下面為大家介紹一下。

高精度硬盤RDT高溫老化柜的使用方法(圖1)


環儀儀器 高精度硬盤RDT高溫老化柜使用步驟:

1.掃描Burn-in board SN,然后SSD開始加載并掃描SSD SN;

2.將Burn-in board SN與SSD SN進行關聯,生成SSD SN Map;

3.將SSD SN Map通過服務器保存在MES系統中;

高精度硬盤RDT高溫老化柜的使用方法(圖2)


4.將SSD SN信息通過Burn-in board SN開始逐一加載到RDT高溫老化柜的終端計算機上;

5.當RDT高溫老化柜上的SSD測試完畢后,回傳Map日志和測試log到服務器;

RDT高溫老化柜上的SSD測試內容包括:

第一項,檢測貼片后的SSD電路板上的各個部分硬件的功能是否正常;

第二項,通過BIST檢測在高溫環境下,對DRAM和NAND的可靠性測試,測試過程中對DRAM和NAND每一個存儲單元進行讀寫測試,通過測試把NAND的早期壞塊找出來;

第三項,檢查BIST的測試結果,并執行SSD的初始化。

高精度硬盤RDT高溫老化柜的使用方法(圖3)


6.服務器對測試log結果進行解析,并上傳反饋到MES系統;

7.卸載SSD前,再次掃描Burn-in board SN,然后SSD開始加載并掃描SSD SN;

8.通過SN檢測SSD產品通過或不通過;若是不通過,顯示出不通過對應的錯誤代碼;

9.通過分揀程序將通過的SSD產品分發到通過托盤中,未通過的SSD產品分發到未通過托盤中。


標簽: SSD老化柜

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